Một trong những hậu quả rất nghiêm trọng của các bệnh lác, tật khúc xạ ở
trẻ em trên thế giới cũng như tại Việt Nam hiện nay đó là nhược thị (NT). Thuật
ngữ nhược thị (amblyopia) có nguồn gốc từ Hy Lạp, có nghĩa là thị lực kém [1].
Nhược thị đã được đề cập đến từ thời Hipocrates, ông đã sử dụng thuật ngữ này
để chỉ một tình trạng thị lực kém không xác định rõ nguyên nhân.
Ngày nay, nhược thị được định nghĩa là tình trạng giảm thị lực ở một
mắt hoặc hai mắt dưới mức 20/30 hoặc có sự khác biệt thị lực giữa hai mắt
trên hai dòng (của bảng thị lực) dù đã được điều chỉnh kính tối ưu. Nhược thị
được phân loại thành hai loại là nhược thị cơ năng (do tật khúc xạ, do lác hoặc
không có tổn thương ở mắt,.) và thực thể (do đục thể thủy tinh, sụp mi, sẹo
giác mạc,.) [2].
Nhược thị cơ năng là tình trạng giảm thị lực ở một hoặc cả hai mắt mà
không tìm thấy tổn thương thực thể ở trên mắt. Vì vậy, việc đi tìm nguyên
nhân nào gây ra tình trạng giảm thị lực ở những bệnh nhân nhược thị cơ năng
vẫn đang là câu hỏi được rất nhiều nhà khoa học quan tâm, nghiên cứu. Các
giả thuyết nghiên cứu đã được đưa ra như: cơ chế hình thành ảnh trên võng
mạc, đánh giá chức năng của đường dẫn truyền thị giác hay chức năng của
các vùng trên vỏ não thị giác.
Nhược thị cần được phát hiện càng sớm càng tốt vì nếu được chẩn đoán
sớm và điều trị kịp thời thì có khả năng phục hồi thị lực gần như mức bình
thường. Tuy nhiên, nếu không được điều trị sẽ gây giảm thị lực vĩnh viễn, ảnh
hưởng rất lớn đến chất lượng cuộc sống của bệnh nhân như giảm hoặc mất
khả năng lao động, sinh hoạt bình thường của bệnh nhân. Ngoài ra, còn có thể
tác động đến sự phát triển tâm lý, tính cách. và hậu quả cuối cùng là gia tăng
tỷ lệ mù lòa trong cộng đồng, tạo gánh nặng cho xã hội.
2
Trên lâm sàng khi chẩn đoán nhược thị các nhà lâm sàng nhãn khoa
thường chỉ dựa vào đo thị lực của bệnh nhân sau khi đã chỉnh kính tối ưu. Kết
quả của các phương pháp thử thị lực này thường là do chủ quan của bệnh
nhân vì vậy độ chính xác thường không cao. Phương pháp ghi điện thế kích
thích thị giác (VEP - Visual Evoked Potential) là phương pháp hoàn toàn
khách quan, giúp chẩn đoán chức năng của dây thần kinh thị giác (dây II)
cũng như sự dẫn truyền của thần kinh thị từ giao thoa thị giác, dải thị giác, tia
thị, thể gối ngoài, cho tới vỏ não thị giác. Vì vậy, VEP có thể là một
phương pháp hữu ích để tìm hiểu nguyên nhân và cơ chế bệnh sinh của nhược
thị, đồng thời giúp đánh giá và theo dõi tình trạng nhược thị. Bằng cách kích
thích thị giác từng mắt riêng rẽ và phân tích đặc điểm các sóng ghi được trên
vỏ não chúng ta có thể xem xét được chức năng của từng dây thị giác, phân
biệt được những tổn thương dẫn truyền thị giác sau giao thoa. Nhiều nghiên
cứu gần đây đã chỉ ra các sóng VEP bất thường trong bệnh viêm thần kinh thị,
mù vỏ não, bệnh glaucoma, parkinson, [3], [4], [5].
Ở Việt Nam hiện nay, chẩn đoán nhược thị bằng kĩ thuật ghi điện thế
kích thích thị giác còn rất ít được nghiên cứu. Đặc biệt lĩnh vực chẩn đoán
nguyên nhân, theo dõi hiệu quả điều trị nhược thị cơ năng thông qua các giá
trị của điện thế kích thích thị giác ở trẻ em còn bỏ ngỏ và hầu như chưa có
một nghiên cứu nào đề cập đến [6].
Xuất phát từ những vấn đề trên, chúng tôi thực hiện đề tài: “Nghiên
cứu đặc điểm các sóng của điện thế kích thích thị giác ở trẻ bình thƣờng
và trẻ nhƣợc thị” nhằm hai mục tiêu sau:
1. Mô tả hình dạng sóng điện thế kích thích thị giác ở trẻ bình thường và
trẻ nhược thị 6 đến 13 tuổi.
2. Xác định giá trị các sóng của điện thế kích thích thị giác ở trẻ bình
thường và trẻ nhược thị 6 đến 13 tuổi.
